Verslag van de analyse na verkoop van de 25G-BIDI-module

Verslag over de analyse van de storing van het geretourneerde productvan 25G BIDI-module

1.Basisinformatie

2.Beschrijving van de storing

Tijdens de volgende hertesting van de teruggekeerde 25G BIDI 40km-optische transceiver werden de volgende storingen waargenomen: het TX-optische vermogen was laag, gemeten op-7,76 dBmOndertussen was de prestatie van het oogdiagram slecht, met onvoldoende oogopening, kruispuntsafwijking en onvoldoende marge, waardoor het niet aan IEEE 802 voldoet.3 en de industriestandaard eisen voor oogmaskers.

3.Analyseprocedure

Stap 1: opnieuw testen om het falen te bevestigen

Om fouten in het testsysteem te elimineren, werd de teruggestuurde module opnieuw getest met behulp van een standaard testbord, een gekalibreerde optische oscilloscoop en een optische vermogenmeter.De hertestresultaten waren consistent met de feedback van de klant: TX optische vermogen was -7,76 dBm (abnormaal), en het oogdiagram mislukte, wat onvoldoende oogopening en merkbaar lawaai aantoonde.

Stap 2: Visuele en eindcontrole

Een gedetailleerde inspectie van de optische interface (de keramische splijtband eindkant in de LC-adapter) werd onder een vergrootingsmicroscoop uitgevoerd.,met inbegrip van, maar niet beperkt tot, stof, vezelresiduen of verontreinigende stoffen op basis van vloeistof/olie.Deze verontreiniging verminderde de optische koppeling efficiëntie en was de directe fysieke oorzaak van de lage TX optische vermogen en afgebroken oog diagram.

Stap 3: Heronderzoek na eindreiniging

Na het uitvoeren van een gestandaardiseerde reiniging van het eindgezicht met professionele glasvezel gereedschappen voor het reinigen van het eindgezicht (lintvrije doekjes + gespecialiseerde reinigingsoplossing) werd de module opnieuw getest.Na-reiniging, het TX-optisch vermogen binnen de limieten van de specificaties is hersteld en het oogdiagram is weer normaal, met een goede oogopening, een stabiel kruispunt, voldoende marge,en volledige naleving van de maskereisen.

4.Analyse van de oorzaak

Op basis van de bovenstaande analyse wordt de oorzaak van dit falen bevestigd als:Verontreiniging aan het eindvlak aan de optische interface.

De verontreinigende stoffen die aan het eindvlak van de vezels vastzitten, veroorzaakten de volgende effecten:

De verontreinigende stoffen die aan het eindvlak van de vezels vastzitten, veroorzaakten de volgende effecten:

(1)Verhoogd insetsverlies, waardoor het optische vermogen daalt tot-7,76 dBm;

(2)De optische paden worden weerkaatst en verspreid, waardoor de signaalintegrititeit afneemt enslechte oogdiagram prestaties;

(3)Na het schoonmaken van de eindkant is de optische prestatie volledig hersteld, wat bewijst dat er geen afwijkingen zijn in de interne optische componenten of circuits van de module.

De mogelijke bronnen van besmetting zijn:

(1)Onvoldoende controle op de milieu-schoonheid tijdens de productie en assemblage;

(2)Contaminatie van de eindkant tijdens transport of gebruik;

(3)Kruisbesmetting door vieze eindvlakken van de testadapter.

(4)Onjuiste behandeling door de klant tijdens het gebruik, het inbrengen/uitbrengen of de opslag, waardoor de eindkant van de optische poort in contact komt met verontreinigende stoffen (bv.het niet tijdig vervangen van de stofkap, of blootstelling in een niet-schone omgeving).

5Conclusies

De oorzaak van het lage TX-optische vermogen en het slechte oogdiagram van deze module is verontreiniging aan de optische poort.geen functionele storing van de componenten of circuitsNa een goede reiniging is de optische prestatie van de module volledig hersteld tot de gekwalificeerde status.